1. Defect-Oriented Testing For Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
پدیدآورنده : / by Manoj Sachdev, Jose Pineda de Gyvez
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : CMOS VLSI Circuits
رده :
TK7874
.
D47S2
2010
2. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
پدیدآورنده : by Manoj Sachdev.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Computer engineering.,Engineering design.,Engineering.
3. #2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing
پدیدآورنده : #sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee , edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع : Semiconductors- Defects- Congresses
رده :
#
QC
،#.
D4
,
I54
،#
2000
4. 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing, April 30, 2000, Montreal, Canada
پدیدآورنده : sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee; edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Testing -- Congresses ، Metal oxide semiconductors, Complementary,Congresses ، Iddq testing,Defects -- Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
2000
